本产品适用于激光焦斑诊断、贝塞尔光束诊断及 OEM 集成开发。常规光斑分析仪受 CMOS 像素限制，最小可测光斑多在 30μm 量级。本品搭配专用成像透镜组放大微小焦斑，可实现＜5μm 焦斑检测。
贝塞尔光束零阶中央焦斑可达波长量级、长焦深，且伴随环形旁瓣，常规检测易互相干扰。配套软件支持选区测量，单独框选 0 级中央亮斑分析，规避旁瓣影响，精准得到焦斑质心、尺寸与强度分布。
成像透镜组与分析仪出厂完成联合校准，保障测量精度。模组自带调整架，便于将光斑对准 CMOS 中心；配套 SDK，支持快速 OEM 集成与二次开发
